2010年 SEM & FIB相关附属设备及应用研讨会
邀请函
亲爱的客户您好：
我们诚挚的邀请您 於99年10月22日（五）参与由美国Omniprobe公司与总代理 伟技股份有限公司，於新竹国宾饭店共同举办SEM & FIB相关附属设备及应用研讨会。Omniprobe是供应SEM及FIB相关附属设备的国际级领导厂商，致力於提供相关附属应用设备以加强SEM及FIB的应用功能，以帮助客户提升既有的SEM & FIB设备达到Nano-lab的应用层次。
此次伟技特别邀请Omniprobe全球行销协理Efrat Moyal及应用部经理Cheryl Hartfield来台，透过研讨会为台湾客户介绍目前针对TEM sample准备，GIS系统相关最新的应用及报告，届时透过现场机台介绍与即时讨论，以利客户更清楚了解如何发挥现有SEM &
FIB的功能与应用层次。
这是Omniprobe第一次在台湾举办相关的研讨会，机会相当难得，我们非常欢迎您
及相关人员能够莅临参加，若您 有任何问题，请不吝给我们指教与批评，伟技全体同仁将以最诚挚的心，为您 提供服务，谢谢。
相关研讨会内容请见下页议程细项。
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SEM & FIB相关附属设备及应用研讨会 议程细项
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9:30
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Coffee
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10:00
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FIB Strategies for TEM sample Preparation (H-bar,
INLO - in situ lift-out , EXLO - ex situ lift-out)
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10:30
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In situ lamella cutting methods, advantages
and disadvantages of each
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11:00
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Coffee Break
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11:30
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Reorienting the lamella for Plan-View TEM and Sideways Milling
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12:00
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Lift-Out Tips and Tricks
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12:30
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Backside Thinning and grid attach Strategies (Short-Cut – ex-situ
grid attach, double lift-out and more)
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13:00
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Lunch
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14:00
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Preparation for tomography
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14:30
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Gas Injection System – SEM
& FIB Applications:
Nanowire positioning
Plasmonic nanostructure & nanofabrication
Device assembly
e-beam lithography (ion beam as well)
electrical test structure
He microscope – IBID
ALD – Atomic Layer Deposition
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15:30
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Sample transfer system
Sensitive Sample Transfer between microscopes
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16:00
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Coffee w/
Q&A
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报名方式:
1.电邮报名：填写完毕请回传至电邮信箱 penny_vtek@mail2000.com.tw
2.传真报名：04-25205797张小姐收
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洽询：04-25206159张小姐
