|
 |
|
 |
| 主旨: |
半導體故障分析技術研討會_國立成功大學微奈米科技研究中心 |
| 日期: |
2017/8/9 |
| 內容: |
在奈米製程無塵室製備樣品時，手動切割常造成樣品的污染。如何降低無塵室樣品製備的汙染，在半導體故障分析技術中，是一重要、須解決之課題。本次技術研討會將邀請在半導體的故障分析領域超過20年經驗，且連續六年擔任ISTFA (國際測試和故障分析研討會)主席的Efrat Moyal女士分享在半導體故障分析領域的新技術，另外國立成功大學微奈米科技研究中心的技術長亦會發表中心在半導體製程和半導體檢測分析的最新研發成果，歡迎各界先進蒞臨，踴躍報名參加。
指導單位：科技部產學及園區業務司主辦單位：國立成功大學微奈米科技研究中心 微奈米製程與檢測產學技術合作聯盟 偉技股份有限公司研討會時間：2017年8月24日（星期四）13：30 - 17：00研討會地點：國立成功大學微奈米科技研究中心9064會議室 位置圖聯絡人：(03)5630509 Judy 林小姐/ Joyce 徐小姐報名方式：免費報名。請填寫下方報名表。報名網址：https://goo.gl/forms/eKKRS82edwZ5PUSU2
|
|
|
|
