偉技股份有限公司

　

首頁＞半導體相關

四點探針系統

電化學CV Profiler、光電壓光譜量測系統

IVS CD&Overlay量測系統

XEI 射頻電漿真空腔體與SEM/TEM 樣品清潔設備

腔外提取與製備TEM樣品設備

手動精準裂片機

表面界面物性解析儀

樣品製備工具與相關耗材

　

　

	半導體相關
			四點探針系統
			電化學CV Profiler、光電壓光譜量測系統
			IVS CD&Overlay量測系統
			XEI 射頻電漿真空腔體與SEM/TEM 樣品清潔設備
			腔外提取與製備TEM樣品設備
			手動精準裂片機
			表面界面物性解析儀
			工程膠粘劑產品
			樣品製備工具與相關耗材

化合物半導體相關

太陽能相關

其他產品與服務

　

版權所有 © 偉技股份有限公司 | 電話: 03-5630509 | 傳真: 03-5630391 E-MAIL: service@go-vtc.com
300006 新竹市經國路一段675號11樓-1109

　