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產品名稱:

產品名稱:

電化學CV Profiler

產品廠牌:

WEP

產品簡述:

WEP 是全球電化學CV設備的領導廠商本設備可適用在多種不同的材料上例如Group IV (SiGeSiC)Group II/VI (GaAsInP …)Group II/VII (CdTeHgCdTe ZnO …)Nitrides (GaNAlGaN … ), AlGaAsGaInPAlGaInP …) CVP 21 的淨室和模組化的系統設計結構使得本系統可以高效率,準確的測量半導體材料(結構,)中的摻雜濃度分佈。   CVP 21 採用模組化的系統設計結構,可以準確的測量半導體材料中的摻雜濃度分佈.選用合適的電解液與材料接觸,腐蝕,從而得到材料的摻雜濃度分佈 。電容值電壓掃描和腐蝕過程由軟體全自動控制 電容值電壓掃描和蝕刻過程由軟體全自動控制。

 

 

 

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相關網站:http://www.wepcontrol.com/cv-profiler/index.htm

 

 

 

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