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主旨: |
可靠度故障分析技术研讨会_长庚大学可靠度科学技术研究中心 |
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日期: |
2017/8/11 |
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內容: |
产品的性能和可靠性是产品的最佳价值，也是客户决定购买的基础，这才是全球性生存竞争的关键。换句话说，以合理的成本实现高产品的可靠性是当今电子和机械行业的关键成功因素。产品的性能藉由故障分析得以提昇，但分析样品往往非常珍贵，因此制备样品时降低的损耗，以及提高精准度将是一重要课题。本次可靠度故障分析技术研讨会将邀请可靠度中心主任陈始明教授，发表最新的可靠度研究成果。也将邀请在ISTFA(国际测试与故障分析研讨会) 担任九年董事的Efrat Moyal女士与我们分享半导体故障分析时样品制备的新技术。
日 期：2017/8/23 (星期三)
时 间：8:30～12:00
地 点：长庚大学第二医学大楼B1会议厅二(位置图)
主办单位：长庚大学 可靠度科学技术研究中心
协办单位：伟技股份有限公司(V-TEK Co., Ltd.)
报名洽询： (03)5630509 Judy 林小姐/ Joyce 徐小姐
报名方式：免费报名。请填写下方报名表。
报名网址：https://goo.gl/forms/fEshNsv1PBCOJX5u2
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