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主旨: 2010年 SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會
日期: 2010/11/4
內容: 偉技公司與世界大廠Aixtron, Oxford instruments等共同成為Blue 2009 conferences贊助商

 

 

 

 


 

2010SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會 邀請函

親愛的客戶您好:

    我們誠摯的邀請您 於991022日(五)參與由美國Omniprobe公司與總代理 偉技股份有限公司,於新竹國賓飯店共同舉辦SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會Omniprobe是供應SEMFIB相關附屬設備的國際級領導廠商,致力於提供相關附屬應用設備以加強SEMFIB的應用功能,以幫助客戶提升既有的SEM & FIB設備達到Nano-lab的應用層次。

此次偉技特別邀請Omniprobe全球行銷協理Efrat Moyal及應用部經理Cheryl Hartfield來台,透過研討會為台灣客戶介紹目前針對TEM sample準備,GIS系統相關最新的應用及報告,屆時透過現場機台介紹與即時討論,以利客戶更清楚了解如何發揮現有SEM & FIB的功能與應用層次。

這是Omniprobe第一次在台灣舉辦相關的研討會,機會相當難得,我們非常歡迎您 及相關人員能夠蒞臨參加,若您 有任何問題,請不吝給我們指教與批評,偉技全體同仁將以最誠摯的心,為您 提供服務,謝謝。

相關研討會內容請見下頁議程細項。

SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會 議程細項

9:30

Coffee

10:00

FIB Strategies for TEM sample Preparation (H-bar, INLO - in situ lift-out , EXLO - ex situ lift-out)

10:30

In situ lamella cutting methods, advantages and disadvantages of each

11:00

Coffee Break

11:30

Reorienting the lamella for Plan-View TEM and Sideways Milling

12:00

Lift-Out Tips and Tricks

12:30

Backside Thinning and grid attach Strategies (Short-Cut – ex-situ grid attach, double lift-out and more)

13:00

Lunch

14:00

Preparation for tomography

14:30

Gas Injection SystemSEM & FIB Applications:

Nanowire positioning

Plasmonic nanostructure & nanofabrication

Device assembly

e-beam lithography (ion beam as well)

electrical test structure

He microscope – IBID

ALD – Atomic Layer Deposition

15:30

Sample transfer system

Sensitive Sample Transfer between microscopes

16:00

Coffee  w/ Q&A

    報名方式:

1.電郵報名:填寫完畢請回傳至電郵信箱  penny_vtek@mail2000.com.tw

   2.傳真報名:04-25205797小姐收

    洽詢:04-25206159小姐

 

 

 



 
 

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