2010年 SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會
邀請函
親愛的客戶您好：
我們誠摯的邀請您 於99年10月22日（五）參與由美國Omniprobe公司與總代理 偉技股份有限公司，於新竹國賓飯店共同舉辦SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會。Omniprobe是供應SEM及FIB相關附屬設備的國際級領導廠商，致力於提供相關附屬應用設備以加強SEM及FIB的應用功能，以幫助客戶提升既有的SEM & FIB設備達到Nano-lab的應用層次。
此次偉技特別邀請Omniprobe全球行銷協理Efrat Moyal及應用部經理Cheryl Hartfield來台，透過研討會為台灣客戶介紹目前針對TEM sample準備，GIS系統相關最新的應用及報告，屆時透過現場機台介紹與即時討論，以利客戶更清楚了解如何發揮現有SEM &
FIB的功能與應用層次。
這是Omniprobe第一次在台灣舉辦相關的研討會，機會相當難得，我們非常歡迎您
及相關人員能夠蒞臨參加，若您 有任何問題，請不吝給我們指教與批評，偉技全體同仁將以最誠摯的心，為您 提供服務，謝謝。
相關研討會內容請見下頁議程細項。
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SEM & FIB相關附屬設備及應用研討會 議程細項
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9:30
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Coffee
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10:00
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FIB Strategies for TEM sample Preparation (H-bar,
INLO - in situ lift-out , EXLO - ex situ lift-out)
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10:30
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In situ lamella cutting methods, advantages
and disadvantages of each
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11:00
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Coffee Break
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11:30
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Reorienting the lamella for Plan-View TEM and Sideways Milling
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12:00
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Lift-Out Tips and Tricks
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12:30
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Backside Thinning and grid attach Strategies (Short-Cut – ex-situ
grid attach, double lift-out and more)
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13:00
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Lunch
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14:00
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Preparation for tomography
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14:30
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Gas Injection System – SEM
& FIB Applications:
��Nanowire positioning
��Plasmonic nanostructure & nanofabrication
��Device assembly
��e-beam lithography (ion beam as well)
��electrical test structure
��He microscope – IBID
��ALD – Atomic Layer Deposition
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15:30
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Sample transfer system
Sensitive Sample Transfer between microscopes
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16:00
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Coffee w/
Q&A
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報名方式:
1.電郵報名：填寫完畢請回傳至電郵信箱 penny_vtek@mail2000.com.tw
2.傳真報名：04-25205797張小姐收
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洽詢：04-25206159張小姐
