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| 主旨: |
可靠度故障分析技術研討會_長庚大學可靠度科學技術研究中心 |
| 日期: |
2017/8/11 |
| 內容: |
產品的性能和可靠性是產品的最佳價值，也是客戶決定購買的基礎，這才是全球性生存競爭的關鍵。換句話說，以合理的成本實現高產品的可靠性是當今電子和機械行業的關鍵成功因素。產品的性能藉由故障分析得以提昇，但分析樣品往往非常珍貴，因此製備樣品時降低的損耗，以及提高精準度將是一重要課題。本次可靠度故障分析技術研討會將邀請可靠度中心主任陳始明教授，發表最新的可靠度研究成果。也將邀請在ISTFA(國際測試與故障分析研討會) 擔任九年董事的Efrat Moyal女士與我們分享半導體故障分析時樣品製備的新技術。
日 期：2017/8/23 (星期三)
時 間：8:30∼12:00
地 點：長庚大學第二醫學大樓B1會議廳二(位置圖)
主辦單位：長庚大學 可靠度科學技術研究中心
協辦單位：偉技股份有限公司(V-TEK Co., Ltd.)
報名洽詢： (03)5630509 Judy 林小姐/ Joyce 徐小姐
報名方式：免費報名。請填寫下方報名表。
報名網址：https://goo.gl/forms/fEshNsv1PBCOJX5u2
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