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NV-F 2D/3D Hybrid Automation System - NV-F3200

NanoSystem以成為全球最好的公司為目標,開發了非接觸式3D測量與檢測的核心技術,並以其技術實力、市場競爭力和出色的業績成功拓展海外市場。

產品介紹

最先進的非接觸式 3D 表面輪廓儀。

型號 NV-F2700 NV-F3200
測量原理 Non-contact, Three-dimensional
White-Light Scanning Interferometry(WSI)
Phase Shift Interferometry(PSI)
掃描模組 PZT Scanner
同軸照明 White light LED Illumination(Light Source)
物鏡 2.5x, 5x, 10x 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x