產品介紹

這些精心製作的優質樣本用於在配備鎢、Lab6 或場發射槍（例如 FEG）發射器的 SEM 中進行解析度測試。
小型和大型金島為中解析度和高解析度測試提供了各種間隙尺寸。金的高原子序數和高二次電子發射特性使其成為此類儀器性能檢查的理想樣本。