E-TEK 4 Post Moly Grid

The E-TEK 4 post molybdenum FIB lift-out grid features 4 posts with a post specification of 60 × 25 × 190 µm (W × D × H).

E-TEK 4 Post Moly Grid with Step

The E-TEK 4 post molybdenum FIB lift-out grid with step features 4 posts with a post specification of 60 × 25 × 160 µm (W × D × H).

EM-Tec FIB 網格支架和 FIB 網格 + 樣品支架 - #12000270 for 2 FIB grids

EM-Tec FIB 網格支架設計用於固定 FIB 網格，並可輕鬆接近 FIB 網格上的柱子，以連接銑削的 FIB 提升薄片。 FIB 網格支架可用於 FIB/SEM 系統，也可用於安全儲存帶有附著薄片的 FIB 網格。 EM-Tec FIB 網格和樣品支架是緊湊型支架，可將 FIB 網格直接固定在帶有樣品的標準 SEM 針腳旁邊。 提升薄片只需移動一小段距離即可將其連接到 FIB 網格上。 EM-Tec FIB 網格支架全部由真空級鋁精密加工而成。

EM-Tec FIB 網格支架和 FIB 網格 + 樣品支架 - #12000375 with 5 FIB grids

EM-Tec FIB 網格支架設計用於固定 FIB 網格，並可輕鬆接近 FIB 網格上的柱子，以連接銑削的 FIB 提升薄片。 FIB 網格支架可用於 FIB/SEM 系統，也可用於安全儲存帶有附著薄片的 FIB 網格。 EM-Tec FIB 網格和樣品支架是緊湊型支架，可將 FIB 網格直接固定在帶有樣品的標準 SEM 針腳旁邊。 提升薄片只需移動一小段距離即可將其連接到 FIB 網格上。 EM-Tec FIB 網格支架全部由真空級鋁精密加工而成。

EM-Tec FIB 網格支架和 FIB 網格 + 樣品支架 - #12000276 with a pin stub and 5 FIB grids

EM-Tec FIB 網格支架設計用於固定 FIB 網格，並可輕鬆接近 FIB 網格上的柱子，以連接銑削的 FIB 提升薄片。 FIB 網格支架可用於 FIB/SEM 系統，也可用於安全儲存帶有附著薄片的 FIB 網格。 EM-Tec FIB 網格和樣品支架是緊湊型支架，可將 FIB 網格直接固定在帶有樣品的標準 SEM 針腳旁邊。 提升薄片只需移動一小段距離即可將其連接到 FIB 網格上。 EM-Tec FIB 網格支架全部由真空級鋁精密加工而成。

EM-Tec and Gilder TEM grid storage boxes

多種實用的 TEM 網格盒可供選擇，用於 TEM 網格和 FIB 取出網格的短期儲存處理、運輸和長期儲存。 所有提供的 TEM 網格盒均配有透明塑膠蓋，方便網格定位。 各個儲存位置都經過編號或索引，以便於擷取 TEM 網格。 TEM 盒的完整選擇範圍從經濟型儲存盒到完全防靜電

油漆跟黏合劑

校準和參考標準

為了確保準確測量樣品的特徵，需要良好的分辨率和放大倍率標準。 SPI Supplies 提供一系列產品來滿足您的放大需求。從毫米到奈米，這些標準涵蓋了放大校準和使用所需的廣泛功能，從日常到完全可追溯。許多是多學科的，也可用於光學或 AFM 儀器。

解析度標準

這些精心製作的優質樣本用於在配備鎢、Lab6 或場發射槍（例如 FEG）發射器的 SEM 中進行解析度測試。 小型和大型金島為中解析度和高解析度測試提供了各種間隙尺寸。金的高原子序數和高二次電子發射特性使其成為此類儀器性能檢查的理想樣本。