EXpressLO™ 網格跟其他

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油漆跟黏合劑

校準和參考標準

為了確保準確測量樣品的特徵，需要良好的分辨率和放大倍率標準。 SPI Supplies 提供一系列產品來滿足您的放大需求。從毫米到奈米，這些標準涵蓋了放大校準和使用所需的廣泛功能，從日常到完全可追溯。許多是多學科的，也可用於光學或 AFM 儀器。

解析度標準

這些精心製作的優質樣本用於在配備鎢、Lab6 或場發射槍（例如 FEG）發射器的 SEM 中進行解析度測試。 小型和大型金島為中解析度和高解析度測試提供了各種間隙尺寸。金的高原子序數和高二次電子發射特性使其成為此類儀器性能檢查的理想樣本。

Evactron® Model E25 Plasma De-Contaminators™

Evactron® E25 透過儲存在其內部記憶體中的工廠編程設定簡化了等離子操作，從而減少了對操作員進行大量培訓的需要。 這款緊湊型桌上型控制器具有嵌入式軟體，可調節洩漏閥並透過 MicroPirani™ 壓力表控制腔室壓力。 它還管理射頻功率，並包括一個內建時鐘，用於對下游等離子體清潔和氮氣吹掃週期進行計時。 操作資料和故障事件由微處理器記錄。 使用者可以使用編碼器旋鈕調整參數，選單選項顯示在前面板上。 啟用/停用按鈕可啟動等離子清潔系統。此外，RS232 介面允許使用提供的圖形使用者介面 (GUI) 將關鍵參數（例如射頻功率（正向和反射）、真空度和操作/故障日誌）傳輸到遠端電腦。

Evactron® E50 Plasma De-Contaminators™

Evactron® E50 淨化器是一款小巧高性能等離子清潔器，專為電子和離子束儀器（包括 SEM、TEM 和 FIB）而設計。 E50 提供強大的清潔功能，可增強解析度和成像，同時提高偵測器和探頭的靈敏度（污染可能會影響靈敏度）。 憑藉其高功率清潔功能，Evactron® E50 可確保在各種壓力下進行快速有效的清潔，從而獲得高品質、無偽影的影像並提高樣品分析效率。

Ex-situ Lift Off System

可以直接從6”~12”晶圓上進行樣品EXLO（腔外去除和TEM樣品製備），比原位剝離更快、更準確地製備用於TEM分析的樣品。